電機(jī)運(yùn)行電容器壽命測(cè)試是模擬電容器實(shí)際運(yùn)行的測(cè)試。在測(cè)試中試圖重現(xiàn)自由空氣條件是不現(xiàn)實(shí)的，然而，仍然有可能模擬這些條件的影響。壽命試驗(yàn)的目的是檢查產(chǎn)品在規(guī)定條件下和規(guī)定時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定功能的能力。對(duì)于電容器，即產(chǎn)品在一定溫度條件下和一定電壓下使用和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。

　　電機(jī)運(yùn)行電容器壽命試驗(yàn)是獲取電機(jī)運(yùn)行電容器可靠性數(shù)據(jù)的重要手段，也是電機(jī)運(yùn)行電容器可靠性預(yù)測(cè)的基礎(chǔ)。通過實(shí)驗(yàn)，分析了電容器的失效規(guī)律。找出失敗的原因或機(jī)制。從而改善電機(jī)運(yùn)行電容器的制造工藝。

　　影響電機(jī)運(yùn)行電容器壽命的主要因素：

　　影響的因素有很多，如電應(yīng)力(電壓、電流和電功率)的控制，環(huán)境應(yīng)力(溫度、濕度、低氣壓和放射性)的控制等，以及機(jī)械應(yīng)力的控制。